ელექტრონულ კომპონენტთა საიმედოობაზე დაჩქარებული გამოცდების შემუშავება და კვლევა : დის... დოქტ. აკად. / სამეცნ. ხელმძღვ. ნამიჩეიშვილი ოლეგ ; საქ. ტექნ. უნ-ტი. - თბ., 2008. - 135გვ. : ცხრ., ნახ.. - ბიბლიოგრ.: გვ. 113-119[MFN: 5405]
UDC: 004.052
სრული ტექსტი
თემატიკა:- საინფორმაციო ტექნიკური მოწყობილობების საიმედოობა;
D 8.566 - საარქივო ფონდი